SJ 50033/143-1999 半导体光电子器件GF1120型红色发光二极管详细规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-04 01:23:01   浏览:8789   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:半导体光电子器件GF1120型红色发光二极管详细规范
英文名称:Semiconductor optoelectronic devices-Detail specification for Type GF1120 red emitting diode
中标分类:
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:1999-11-10
实施日期:1999-12-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
提出单位:中华人民共和国信息产业部
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:长春市半导体厂
起草人:陈兰
出版社:中国电子工业出版社
出版日期:1999-12-01
页数:8页
适用范围

本规范规定了GF1120型红色发光二极管的详细要求。本规范适用于GF1120型红色发光二极管(以下简称器件)的研制、生产和采购

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引用标准

GB 4590-1984 半导体集成电路 机械和气候试验方法
GB 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
GB 11499-1989 半导体分立器件文字符号
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
SJ 2355-1983 半导体发光器件测试方法

所属分类:
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforParticleSizeDistributionofMetalPowdersandRelatedCompoundsbyX-RayMonitoringofGravitySedimentation
【原文标准名称】:用X射线重力沉积监测法测定粉末和有关化合物的粒度分布的标准试验方法
【标准号】:ASTMB761-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;金属粉末;高熔点金属;放射性试验;沉淀;金属;粒度分布
【英文主题词】:Metallicpowders;Metals;Particlesizedistribution;Radiographictesting;Refractorymetals;Sedimentation;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:77_160
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Rubbles
【原文标准名称】:毛石
【标准号】:JISA5006-1995
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1995-02-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonArchitecture
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:毛石;施工材料
【英文主题词】:rubble;constructionmaterials
【摘要】:この規格は,主に土木?建築に使用する割ぐり石について規定する。備考この規格の中で{}を付けて示してある単位及び薮値は,従来単位によるもので参考値である。
【中国标准分类号】:Q20
【国际标准分类号】:91_100_15
【页数】:4P;A4
【正文语种】:日语