作者:标准资料网 时间:2024-05-22 07:27:29   浏览:9553   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Integratedcircuits-Sectionalspecificationforsemiconductorintegratedcircuitsexcludinghybridcircuits
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.半导体集成电路(混合电路除外)的分规范
【标准号】:BSIEC60748-11-2000
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1991-09-30
【实施或试行日期】:1991-09-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检验;电子设备及元件;评估的质量;质量保证体系;认可试验;统计质量控制;资格鉴定;试验条件;集成电路;规范(验收);质量控制;半导体器件
【英文主题词】:Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Qualityassurance;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Testing
【摘要】:Qualityassessmentprocedures,inspectionrequirements,screeningsequences,samplingrequirements,testandmeasurementproceduresforencapsulated,includingmultichipcircuits.TobereadinconjunctionwithBSQC700000
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:英语